GenRad类式的测试称Junction Xpress 。其同样利用IC内的二极管特性，只是测试是通过测量二极管的频谱特性（二次谐波）来实现的 。
DeltaScan技术不需附加夹具硬件，成为首推技术 。
2.2 FrameScan电容藕合测试
FrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开 。每个器件上面有一个电容性探头，在某个管脚激励信号，电容性探头拾取信号 。如图所示：
1 夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头 。
2 测试仪内的模拟测试板（ATB）依次向每个被测管脚发出交流信号 。
3 电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号 。
4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号 。如果某个管脚与电路板的连接是正确的，就会测到信号；如果该管脚脱开，则不会有信号 。
GenRad类式的技术称Open Xpress 。原理类似 。
此技术夹具需要传感器和其他硬件，测试成本稍高 。
3 Boundary-Scan边界扫描技术
ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点 。但随着器件集成度增高，功能越来越强 ， 封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用 ， PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长 。为此，联合测试组织（JTAG）颁布了IEEE1149.1测试标准 。
IEEE1149.1定义了一个扫描器件的几个重要特性 。首先定义了组成测试访问端口（TAP）的四（五〕个管脚：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST） 。测试方式选择（TMS）用来加载控制信息；其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式，主要有外测试（EXTEST）、内测试（INTEST）、运行测试（RUNTEST）；最后提出了边界扫描语言（Boundary Scan Description Language），BSDL语言描述扫描器件的重要信息 ， 它定义管脚为输入、输出和双向类型，定义了TAP的模式和指令集 。
具有边界扫描的器件的每个引脚都和一个串行移位寄存器（SSR）的单元相接，称为扫描单元 ， 扫描单元连在一起构成一个移位寄存器链，用来控制和检测器件引脚 。其特定的四个管脚用来完成测试任务 。
将多个扫描器件的扫描链通过他们的TAP连在一起就形成一个连续的边界寄存器链，在链头加TAP信号就可控制和检测所有与链相连器件的管脚 。这样的虚拟接触代替了针床夹具对器件每个管脚的物理接触，虚拟访问代替实际物理访问 ， 去掉大量的占用PCB板空间的测试焊盘，减少了PCB和夹具的制造费用 。
作为一种测试策略 ， 在对PCB板进行可测性设计时，可利用专门软件分析电路网点和具扫描功能的器件，决定怎样有效地放有限数量的测试点，而又不减低测试覆盖率，最经济的减少测试点和测试针 。
边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难，更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法 ， 利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder 。解决编写复杂测试库的困难 。
用TAP访问口还可实现对如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在线编程（In-System Program或On Board Program） 。
4 Nand-Tree
Nand-Tree是Inter公司发明的一种可测性设计技术 。在我司产品中，现只发现82371芯片内此设计 。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件，我们可将此文件转换成测试向量 。
ICT测试要做到故障定位准、测试稳定 ， 与电路和PCB设计有很大关系 。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点 。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后，可互不影响 。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求 。
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